
盤形測(cè)針用于檢測(cè)星形測(cè)針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。半球形測(cè)針可用于檢測(cè)粗糙表面和深位特征.
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盤形測(cè)針用于檢測(cè)星形測(cè)針無法觸及的孔內(nèi)退刀槽和凹槽。一系列盤形測(cè)針可提供“半球形滾子”以實(shí)現(xiàn)凹槽高度測(cè)量。陶瓷測(cè)針具有重量輕、耐磨和無磁性的優(yōu)點(diǎn)。銀質(zhì)鋼測(cè)針經(jīng)過熱處理和研磨加工,精度可滿足極高公差要求。半球形測(cè)針可用于檢測(cè)粗糙表面和深位特征,例如內(nèi)孔。陶瓷測(cè)針具有重量輕、耐磨和無磁性的優(yōu)點(diǎn)。
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