
BETASCOPE,在所有 FISCHER 測量儀器中,BETASCOPE 可提供Z多的涂鍍層組合。
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BETASCOPE,在所有 FISCHER 測量儀器中,BETASCOPE 可提供Z多的涂鍍層組合。通過 β 射線方法,BETASCOPE 無需依賴于樣品的磁性或電特性即可測量涂鍍層厚度。因此,它能夠測量任何底材上任何涂鍍層的厚度,只要涂層材料與底材的原子序數(shù)相差至少為 5 即可。作為通用測量系統(tǒng) MMS PC2 的插件模塊,BETASCOPE 能夠與許多其他測量技術(shù)相結(jié)合,同時還可利用 MMS PC2 的優(yōu)勢。
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同位素源可發(fā)出 β 射線(電子)。它們可穿透帶涂層工件的表面,并與涂層和基材的原子相互作用。測量效果包括通過蓋革-米勒計數(shù)管檢測到的背散射電子的數(shù)量。當(dāng)涂層與基材的原子數(shù) Z 相差至少為 Z = 5 時,可通過該方法確定涂層厚度。
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